патент
№ RU 25236
МПК G06K9/30

УСТРОЙСТВО ДЛЯ РАСПОЗНАВАНИЯ ОБРАЗОВ

Авторы:
Калинин Ю.И.
Номер заявки
2002110001/20
Дата подачи заявки
22.04.2002
Опубликовано
20.09.2002
Страна
RU
Как управлять
интеллектуальной собственностью
Чертежи 
2
Реферат

Устройство для распознавания образов, содержащее лазер, преобразователь входной информации, согласованные по спектру интерференционные фильтры, фотоприемники, выходы которых подключены к многоканальному анализатору, отличающееся тем, что в него введены оптическое устройство преобразования Фурье (ОУПФ), многоканальный анализатор, логический блок, преобразователь сигналов, причем ОУПФ состоит из последовательно установленных оптически связанных лазера, микрообъектива, пространственного фильтра, собирающей линзы, фрактальной решетки, экрана, оптически связанного с фотоэлектронным умножителем (ФЭУ), перемещаемого микрометром, выходы ФЭУ через электронный усилитель последовательно соединены с преобразователем сигналов и далее со входами многоканального анализатора, выполненного в виде оптической нейронной сети, кроме того, лазер выполнен в виде лазера на свободных электронах, содержащего последовательно расположенные и оптически связанные линейный ускоритель электронов, электромагнитный ондулятор с управляющей обмоткой, оптический резонатор, причем управляющая обмотка ондулятора соединена с выходом логического блока, а выход многоканального анализатора связан с входом логического блока.

Формула изобретения

Устройство для распознавания образов, содержащее лазер, преобразователь входной информации, согласованные по спектру интерференционные фильтры, фотоприемники, выходы которых подключены к многоканальному анализатору, отличающееся тем, что в него введены оптическое устройство преобразования Фурье (ОУПФ), многоканальный анализатор, логический блок, преобразователь сигналов, причем ОУПФ состоит из последовательно установленных оптически связанных лазера, микрообъектива, пространственного фильтра, собирающей линзы, фрактальной решетки, экрана, оптически связанного с фотоэлектронным умножителем (ФЭУ), перемещаемого микрометром, выходы ФЭУ через электронный усилитель последовательно соединены с преобразователем сигналов и далее со входами многоканального анализатора, выполненного в виде оптической нейронной сети, кроме того, лазер выполнен в виде лазера на свободных электронах, содержащего последовательно расположенные и оптически связанные линейный ускоритель электронов, электромагнитный ондулятор с управляющей обмоткой, оптический резонатор, причем управляющая обмотка ондулятора соединена с выходом логического блока, а выход многоканального анализатора связан с входом логического блока.

Описание

[1]

УСТРОЙСТВО для РАСПОЗаШАШМ ОБРАЗОВ

[2]

Полезная модель относится к области автоматики и вычислительной техники, к классу систем автоматического распознавания и может найти применение при автоматизации процесса поиска и обнаружения объектов искусственного и естественного происхождения. Автоматическое выделение фрчнтальных объектов на изображениях позволяет знавдте.льно ускорить их классификацию и определить положение, т.е. получить информащш, необходиг; .для последую- . щего принятия решений.

[3]

Известно устройство Устройство для распознавания протяженных линейных объектов у А. С. .f 826372. ОбК 9/30, I98I для распознавания протяженных линейных объектов, содержащее оптически связанные объекты, блок развертки изображения и гжогоэлементный фотоприеглшш. Каждый элемент которого подключен через соответствущие последовательно соеданешше фильтр и амплитудный ограничитель ко входу сутшатора, выход которого соединен со входом порогового элемента, блоки задервцсн, блоки вычитания, ключ и агжЕлитудные ограничители и сумматор; выход каждого элемента фотоприемника подключен к одному входу соответствущего блока вычитания непосредственно, а к другог ду через блок задержки; выход блока вычитания через соответотвущий

[4]

G-o(k9/30

[5]

амплитудным ограничитель со входом сумматора, подключенного порогового элемента, выхода пороговых эле1ментов подключены

[6]

ко входам ключа.

[7]

Однако данное устройство распознавания реагирует только на форму объекта, но срабатывает от разных величин йости, контраста и масштаба искомого и ложного объектов, структуры фона; фрактальные изображения устройство распознавать не может.

[8]

Известен персентрон МвщанкинАВ.М. ,Персентрон А.С. 488230 Q06K 9/02, СгОЗ С 9/08 1976, взятый за прототип, содержащий преобразователь входной информации, связанный с ассоциативной матрицей, имеющей вычитания и пороговые устройства, и блоком анализа; преобразователь входаой информации выполнен в виде трех блоков, представляющие собой ГШогоканальный голографический коррелятор и связанные с ним источник когерентного света и систему преобразования входных сигналов в необходиглый для ввода в этот коррелятор, а ассоциативная матрица выполнена в виде матрицы двухканальных фотоприемников и лультипликатора, установленного между выходаой плоскостью коррелятора и указанной матрицей фотоприемников , связанных с блоком анализа, причем в каждом из фотоприемников выходы обоих каналов соединены со входом системы вычитания , а выходы системы вычитания соединены с пороговым устройством , вход которого является выходом указанного фотоприемника.

[9]

Однако, данное устройство не может распознавать фрактальные объекты искусственного или естественного происхождения в более сложных условиях.

[10]

Более сложные условия работы устройства сводятся к следующе1 5у: объекты имеют разную яркость и контраст с фоном, в том числе и малый, помехи могут иметь большую яркость и большой контраст с фоном, фон, на котором предъявляются объекты для распознавания, является сложным по структуре, анализируемое поле может иметь

[11]

lO€ f(

[12]

неравномерность яркости, масштаб объектов может меняться Е широких пределах; если проявляется свойства фрактальности, то устройство их опознать не может.

[13]

В теории фракталов для определения объекта необходимо знать размерность Хаусдорфа-Безиковича (РХБ), которая связана с гдатрикой, а не с топологией, т.е. со способом построения рассматриваемого множества. Она может принимать любые значения, что дает повод говорить о пространствах дробной размерности, например, канторовсKQi множество на прямой с размерностью и броуновская кривая на плоскости с размерностью И 2. , ковер Серпинского и др.

[14]

фракталы - множества, у которых РХБ превышает их топологическую размерность, примеры: форгш облаков, изрезаяность берегов материалов,слшные формы в живой я неживой природе, скорость турбулентного потока как функция пространственных переменных и времени. Отсюда их самоподобие - характеристика фрактальной геометрии , включащ понятие нецелой размерности. Большинство фракталов, встречающихся в экспериментальных ситуациях обладают автомоде.льностью, т.е. их геометрические характеристики инварианты относительно растяжений. Устройство долшо определять размерность РХБ и пределы в которых структура проявляет фрактальные свойства.

[15]

Цель разработки полезной модели устройства для распознавания образов - распознавание и обнаррхение фрактальных объектов искусственного и естественного происхож дения, определение их параметров и характеристик.

[16]

Для выполнения указанной цели в устройство для распознавания образов, содержащее лазер, преобразователь входной информации, согласованные по спектру интерференционные фильтры, фотоприемники, выходы которых подключены к блокам анализа, введены оптическое устройство преобразования Фурье (ОУПФ), кшогоканальный анализа ( тор с логическим блоком, преобразователь сигналов, причем ОУПФ состоит из последовательно установленных и оптически связанных лазера, микрообъектйва, пространственного фильтра, собиращей линзы, фрактальной решетки, экрана, оптич еоки связанного с фотоэлектронным умножителем (ФЭУ), перемещаемого микрометром, выходы ФЭУ через электронный усилитель последовательно соединены с преобразователем сигналов ж далее со jB2:QД Ш MHoгoкaнaльнoгo анализатора , выполненного в виде оптической нейронной сети, крош того, лаэер выполнен в виде лазе| а на свободных электронах, содержащего последовательно расположенные и оптически связанные линейный згокоритель электронов, Электромагнитный )андулятор с управляодей обмоткой, оптический резонатор, причем утавлящая обмотка он .цулятора соеданена с выходом логического бщока. Сущность полезной модели поясняе.гся на фиг.1, на которой изображена принципиальная схема и структура устройства .щгя опознавания образов фрактальных объектов: 1- оптическое устройство преобразования Фурье (ОУПф) 2- лазер на свобо.1Шых электронах (1СЭ) 3- микрообъект в 4 - пространственный фильтр 5- собирающая линза 6- фрактальная решетка 7- экран 8- фотоэлектронный умножитель (ФЭУ) 9- гликрометрическое устройство 10- электронный усилитель 11- преобразователь ежЕЧйло в -/.. 12- многоканальный анализатор (оптическая нейронная сеть(оНС)) . I

[17]

17- матрица приборов с зарддоЕой связью (ПЗС)

[18]

18- логичеокий блок

[19]

19- линейный ускоритель электронов (ЛУЭ)

[20]

20- управлящая обмотка ондулятора

[21]

21- соленоиды одцулятора

[22]

22- оптический резонатор

[23]

На fur,2 представлена схеш вьшолнения ОНО На .З показана схема обработки изображения в ОНО 1уч отДСЭ-лазера 2 -J . проходит через

[24]

линзу гликроскопа 3. В ее фокусе помещен экран с отверстием 4 С ф 25 якм), действущим как пространственным фильтр, который отбирает проегр нственную моду ТЕоо J собирающая линза (СЛ) 5 ( F 690 ivM, 1 /II). Исследуемая фрактальная решетка (ФР) транспорант 6 помещается между линзой €Л 5 и экраном 7, Наблюдаемая на экране 7 дифракционная каргина есть оптическое преобразование Фурье (ОПФ) .решетки; Q- пространственная частота кооруданат (р. J . Распределение интенсивности )записывается с помо.щью фотоэлектронного умножителя (§ЭУ)-8. Перемещение его на плоскости Фурье контролируется микрометром (MMj9. Полученные данные направляются после усиления в электронном усилителе 10

[25]

Ь npEc.gpA. II и далее - в многоканальной анализатор 12 выполненный в виде оптической нейронной сети 12. На ояайдах 24x35 мм с высоким разрешением, нанесен фрактал, который получается , например, после г 7 итераций. Отношение L/ наибсшьшего масштаба L к его наименьшему 1000. Ограничение -при анализе реальных фракталов обусловлено конечными размерами элементарного зерна в фотопленке, определящими наименьший масштаб - , который может быть зафиксирован на пленке (f mtn 2 мкм), и наибольший масштаб L , который определяет разрешение измерений отсюда L/ равная максимальному числу масштабов л/ 10.000.

[26]

в OHC-I2 входят: 13 - панель источников излучения, 14 первый блок переадресации, фор1;дирующий из точечных источников набор световых полос; (голографические элементы); 15 - пространственно-временной мо.цулятор света (ПВШ), 16 - второй блок переадресации , проецирующий изображение с ПВМС на многоэлементное фотоприемное устройство (ШУ); в качестве ШУ используется специализированная (ПЗС) матрица на цриборах с зарядовой связью -матрица размером, |h/)Iy/ , состоящая из полос Р )ч по 1ЛУ-Н элементов каадая, (где //Х/ размер поля входных изображений, МхМ - размер эталонов и вмещая соотвер.гственно Р дараллельно независимых выходов). Изображения поступают в виде последовательности строк или сформированных в двудтерном виде. В первом случае строки

[27]

А распознавае1лых изображений (РИ) -/)с, ( К, - дискретные пространственные координаты элементов РИ) последовательно вводятся посредством линейки источшшов излучения, а эталоны

[28]

1Г. ( С J- дискретные пространственные координаты внутLjJ

[29]

ри эталонов; р - условный номер эталона) ввиде набора двуг ерных массивов данных хранятся на ПВШ. По координате У модулятор условно делится на Р полос по MXN элементов. Фракталы - множества с крайней нерегулярной разветвленной или изрезанной структурой. Основной характеристикой фрактала служит размерность Хаусдорфа-Безиковича (РХБ). При построении Р2Б рассматривается произвольное покрытие ё Фрактала М конечным или

[30]

бесконечным набором шароа { 0 г радиуса , Размерность фрактала М такое чйсло д 0, что ihf. С)при

[31]

, О для,всех.) и Л ty при доя всехjT o ,„такое пограничное .о - единотяенноРабота устройства состоит в определении РХБ. 2) и пределов . S ц L , в которых структура проявляет фрактальные свойства. Для Кластера частиц пределагж является характерный размер отдельной частивд и наибольший масштаб Кластера , . Размерl -O: С.

[32]

остъ РХБ определяется при зсслэдовании характера возрастания массы, заключенно в шаге радиусом Kj , с увеличением радиуса:

[33]

JL.,

[34]

. В устрМстве используется метод рассеяния света оптическое преобразование фурье (ОПФ) на фрактальных решетках для анализа пространственных частот. ОПФ позволяет осуществлять прямое измерение размерности РХБ.

[35]

Устройство работает следущим образом.

[36]

Для одномерных фракталов при О Штенсивность определяется как у ) L - .136 -фрактальная

[37]

У ч

[38]

размерность. Величина, у - служит, мерой массы М, заключенной в фрактале с линейным размером L . Используя диафрагмы с

[39]

различный® апертура ш дая ограничения эффективно освещенной части

[40]

М-.I

[41]

транспорта - фрактальной решетки ФР 6 возможно изменять L и.

[42]

ог1редзлять J) .

[43]

В .диффракционных экспериментах, Ii (j состоит из формфактора , и структурного фактора Первый соответствует интенсивности света, дифрагировавшего на единичном элементе (отрезке ).0)

[44]

(.

[45]

ве.жчинд О при q)v«y /

[46]

Второй -.структурный фактор описывает,,каким образом единичные элементы распределены по фракта-лу:

[47]

rn coS5Tr.)

[48]

L

[49]

Средняя энергияХ $)/, рассеянно в палосе частот и определяется как

[50]

При сканирований по двум измеренйяг я Фурье - плоскости интенсивность излучения, продифрагяровавшего на одной оси (например, на оси. ф ) определяется:

[51]

оосзо

[52]

./ю

[53]

где ( - коэффициент оптического пропускания исследуемого фрактала. Это есть ОПФ оптической проекций фрактала на ось . Если ее проекция является фракталом и ее фрактальная разлюрность определяется по измерениям , то должна совпадать с размерностью исходного объекта при условии , где ct размерность эвклидова пространства фрактала

[54]

Основной принцип распознавания образов в OHC-I3 состоит в том, чтобы построить поверхности, разделящие гиперпространство

[55]

на конечное чиало областей, каадая из которых имеет свой образ. После процесса обучения.распознавание означает что известные типы будут правильно приписываться одному из классов, определенных таким образом, а если появляется неизвестный тип, не имещий отношения ни к одногу у известноглу классу, то притесывается новое подразделение гиперповерхности.

[56]

Главная задача распознавания образов состоит в том, чтобы приписать изучае лую конфигурацию некоторому классу. индивидуальный класс характеризуется конфигурациятж, приписанными . Эти конфигурации должны обладать некоторыми общими свойствами.

[57]

Рассматриваемые конфигурации можно характеризовать или различать с помощью заданного числа свойств. Каждой характеристике приписывается ось в пространстве состояний. Шличие свойства обозначается единицей, отсутствием - нулем. Таким образом каждой конфигурации можно приписать подпространство пространства состояний.

[58]

Геометрически распознавания образов заключается в одре делении поверхностей, которые производят наи лучшее разбиение (установленные критериями) )лногомерного гипердространства на подцространства, соответствушщ 1е рааличным классам. Гиперповерхности, производящие разбиение, устанав-лйваются в процессе обучения. О Нейросетевая систед а OHC-I2 распознавания малоразмерных изображении функционирует в относительно большом поле наблюдения. Она основана на использовании пространственно-инвариантных опеграторов , что позволяет резко снизить число синоптических связей; упростить и ускорить процедуру обучения нейронной шети. ОШ построена на основе применения оптико-электронного коррелятора с большой производительностью ОНС с универсальной системой обучения обеспе- чивает - эффективное разбиение изображений на классы. Использование нелинейных операторов в тракте ашогослойнож шйрокомпьютерной обработки позволяет строить в пространстве признаков сложные гиперплоскости и соответственно реализовать в нейрокомпьютере сложные алгоритмы распознавания. В OHG-I2 происходит распознавание малоразмерных объектов в поле, существенно превыжащем их размеры, причем координаты объекта неи.вестны. Испо.льзование нейронной сети для решения этоц задачи - спроецировать сцену на сетчатку, в которой число рецепторов соответствует ко,личеству пикселовв сцене, испаяьзовать нейронную сеть ОНО с количеством входов, равнытл числу рецепторов, и обучить-ее, предъявляя объект при всевозможных цреобразованиях, включая сдвиг.. ОНО для распознавания в сцене N пикселов объекта меньшей размерности представлена на фиг.2. Здесь - .-.«о. входы рецепторов, /i- Л. синоптические коэффициенты, ;.... Й - отклик НО после нелинейного преобразования. При наличии полного набора N V М . связей требуется время обучения, необходимое для их настройки, а реализация алгоритма распознавания выполняется за h/ операций умножения и N операций сложения. В тоже время для распознавания объекта размерностью МУ-М пикселов достаточно 1 связей, однако при этом необходимо нейронную сетчатку смещать в поле наблюдения с шагом в сдан элемент по обеим коорданатам. j Алгоритм OHC-I2 реа-лизуэтся с помощью операторов, инвариантных к сдвигу - оператор свзрткз (корреляции) jCK/.- ifAJjl.(K-UdJ ( С-I J . где К I.,., , i...... . - параметры сдвига, при этом обновременно выполняются преобразования, необходимые дня реализации нейросетевого алгоритаю Преимущество данного оператора - его возможность реа-лизации в оптико-электронных устройствах - коррелятора Доррелятор используется для обеспечения пространственной инвариантности обработки, а все преимущества нейрокомпьютерного распознавания при этом сохраняются. Е сопоставлении нейросетевой и корреляционной систевш распознавания, видно, что одному пикселу эталона в корреляторе соответствует один синоптический коэффициент в нейросете- Еой системе, в этом случае нейросетевая система требует Ivr синоптических связей, а распознавание объекта во всех {И Мjположениях производится за счет использования механизма сдвига. Тогда размерность ОНО, подлежащее, обучению, равна М , а число сложений и у1ушожений, необходигу1ых для распознавания, составит W ( Это ускоряет процесс обучения т.к. |1 М и по чиалу операций когда . Процесс распознавания в сцене размерностью пикселов объекта с размерностью М х М пикселов и схема обработки изображения в ОНО представлена на фиг.З Обучение ОНО производится в этом случае путем настройки Ivr связей, с учетом искажений и преобразований. В процессе обучения формируется набор из Р М эталонов (синс|птическая матрица) размерностью М каж.. В процессе распознавания в соответствии с (5) коррелятор вычисляетtN / векторов каждай из которых является при фиксированных |C,i2р- й1ерным вектором (с элементами Q f() Ш)/С()/ л Г рикоелов с координатами К с- - Далее в соответствии с цроце .цурой нейросетевой обработки проводится пороговая обработка шссива С-,) , в результате чего он превращается в бинарный: 2/:p,K,)o,s(s fh kt -U-i- } Дтш однослойной ОШ при ее обучении с обучающей выборкой t определящей itKaccH распознаваемых изображений, сопоставляется набор эталонных векторов yf , В процессе распознавания СР- v Jанализируется, и, если вектор с коорд1анатами принадлежит множеству /И у , фиксируется на-личие . объекта Р-го класса. Главной особенностью оптико-электронного сигнального процессора OHC-I2 яв-лнется то-, что изображение поступают в виде последовательности строк и сфорглированных в двуглерном виде, В первом случае строки fy распознаваемых изображений ( -дискретные пространотвенные координаты элементов РЯ) последовате,яьно вводятся посредством линейки источников 1 излучения, а эталоны к -jj дискретные пространственные коорданаты внутри эталонов; р- условный номер эталона) в виде набора двумерных массивов хранятся на пространственновременном модуляторе света (IIBMC-I5). Но коорданате модулятор условно делится на Р полос по М х М элементов, Каж.цая полоса содержитг| 1, м) одинаковых эталонов (М х М) элементов , равномерно распределенных по координате X, а по координате У располагаются различные эталоны. Элемент линейки источников излучения освещает одан столбец ПВШ-15, На ПВШ-Хб производится перемножение элемента входной строки на столбец элементов каждого эталона, результатом является дискретная функция fM/,j I р f)

[59]

для одного D всех -O/ /P при этом к и L

[60]

связаны соотношением К 4-И М где и - пордщсовыи номер эталона в полосе.

[61]

Соответствущее световое распределение считывается ПЗС матрицей 17. Далее на ПЗе-маэерице 17 производится сдвйг зарядов, на линеЁку излучателей подается следущая строка и вновь считывается результат перемножения (7) . Пос-ле 2М тактов обработки

[62]

выходной сигнал на каждом канале ПЗС-матрицы соответствует

[63]

4Лг -

[64]

- ,. hj 7

[65]

ЧТО представляет собой одномерную свертку 2М строк РИ с каждой из полос эталонов дая .H , ,

[66]

где Со - номер начальной строки РИ.

[67]

Полученные данные запоминаются, затем изображения смещается на один элемент вдоль линейки источников излз чения,и операция повторяется.Двумерные (для каждого Р) функщ1и (fs) су1 л1ушруются, в результате что после выполнения 2М по еле доеа тельных сдвигов строк РЯ получаем2л -- f м

[68]

., .

[69]

что представляет собой по-тпшй набор Р-рвзмерных векторов А

[70]

реакцииШС на фрагменты поля наблюдения размером М х М пикселов

[71]

с координатами k, для всех ,1 ,,

[72]

В случае, когда РИ заданы в.виде двумерного массива данных , они вводятся при помощи ПВШ-17, а эталоны, имеющие такую же структуру,/как и Б предыдущем варианте) - через излучатели. Процедура свертки хгроводится аналогично представленной выше.

[73]

выходного поля, т.к. объекты, находящиеся на границе отдельных каналов ПЗС - матрицы, которые дают отклик соответственно в окрестности начало предыдущей полосы и конца следущей. В этом

[74]

[75]

. При этом обеспечивается спшвка

[76]

случае свертка по координате У для каждого эталона осуществл яется

[77]

за М тактов сдвига заряда, а после проведеция полной операции оаертки-по обеим координатам для одного эталона результарущие сйгна.лы по всем Каналам ПЗС-матрицы будут цредстав.дять фрагмент функции для одного Р из всех ) Q

[78]

Для ввода строк РИ в процессоре используется линейка 13 лазерных или светодиодов, элементы которой включены паралш:ельно по столбцам,-однородный осветитель с линейным модулятором света. Оба блока переадресации - фокусирующие элементы и для их реализа ции и споль зуются дифра кци оннне реше тки 14,16. Модулятор 15 матрица из жидкокриста,ллическвд:-.:(Ж) элементов,где нанесены опознаваемые образцы изображения с учетом Р1Б, S i: ; линимальный размер его светоклапанного элемента 10 х 10 мкм.

[79]

Логический блок 18 содержит вычислительное устройство, реа.лизущее алгоритм

[80]

.)

[81]

Й:/|.),

[82]

где /бОд :ЬАс з - изменение частоты лазера, в результате чего изменяется пространственная частота изображения, повышается

[83]

точность опознавания ОбраЗОВ,- -ТААОйНрЕ. г,

[84]

Преобразователь сигналов II выполняет фунщию накопления, упорядочения сигналов ФЭУ (база данных), и передачи их в оптическутб нейронную сеть 12 на светодиодаые линейки 13.

[85]

Лазер.на свободных электродах (ЛСЭ) - основан на взаимодействии пучка свободных релятивистских электронов - с пространственно-периодическим электрвческрш и,ли магнитным полем, - йрибор релятивистской высокочастотной электроники. Пучок релятивистских электронов в ЛСЭ создается с помощью усйорителя 19 заряженных частиц. Взаимодействие этих электронов с электрическим или магнитным полем происходит в ондуляторе 20, располагаемом так, что

[86]

электронй двйжутоя) вдоль оси одцуляторд 20 .Йод действием цространственно-перйодаческого поля поступательно перемещающиеся с релятивистской скоростью элекзфоны совершают поперечные по отношению к ocia ондулятора колебания и излучают первичную (затравочную) электромагнитную волну Мз-зй эффекта Доплера дошны волны Л первичного йалучения в направлении движения электронов равна Л Лй 3 да )(о пространственный период электрического или магнитного по-ля в ондуляторе ( - несколько см), V - отношение кинетической энергии электронов к их энергии покоя. Если I, то благодаря эффекту Доплера вежчина h (частота первичного излучения во много раз превышает частоту поперечных колебаний электронов).

[87]

В ондуляторе 20 реализуется механизм тормозного излучения.

[88]

Ондулятор 20 преобразует кинетическзгю энергию пучка быстрых заряженрк частщ (электронов) в энергию электроглагнитного излучения на основе взаимодействия этих частиц с периодическим электро-магнитньш полем. Движущаяся заряженная частица, попав в такое поле, совершает периодическое колебательно-поступате.льное движение, и ее траектория имеет вид волнистой линии. Спиральный ондулятор 20 состоит из .двух соосных соленоидов со встречным направлением токов. Пространственно периодическое магнитное поле в таком ондуляторе имеет вид нерасдространяющейся (стоячей) поперечной циркулярно поляризованной волны. Заряженные частицы движутся по винтовым линиям вдоль оси сшгрального ощ улятора.

[89]

В йНДУДяторе 20 реализуются условия, при которых существенна интерференция волн, излучаемых частицей с периодачески повторяющихся участков траекторий. Благодаря такой интерференции возможна генерация остронадравленного излучения (угловая расходимость /К) с высокой спектральной плотностью мощности в области характерных частот.

[90]

излучения путем изменения величины откдонящей силы и энергрш

[91]

частиц.

[92]

В открытом резонаторе 22, куда поступают электроны и создаваемая ИМИ первичная элей 1|зошгн2гтная волна, последняя уси.жвается , превращаясь в направленное когерентное лазерное излучение, Такое излучение возникает в результате -самосогласованного процесса , включающего в себя группирования электронов в сгустки под действием резонансной первичной волны и последующее ее усиление за счет кoгepeйTйoз:.o -| 8JЩщдая образовавшихся электронных сгустков . Эффективное группирование электронов-возможно при угловой расходимости пучка электронов, не превышающих несколько ниллхфадиан,

[93]

Усиление яэрвичной электромагнитной волны происходит потому, что вероятность 1||)йдуцированного иалучения электроном кванта всегда несколько больше, чем вероятность индицированного поглощеввш того же кванта. Это различие обусловлено отдачей, испытываемой электроном при из,дучении или поглощении кванта.

[94]

Плавная перестройка длины волны ЛСЭ-2 из огчения путем изменения величины кйнетической. энергии электронов (следовательно, Уj цри фиксированном значении |fo .

[95]

Как компенсировать расходы
на инновационную разработку
Похожие патенты