СПОСОБ И УСТРОЙСТВО АВТОМАТИЗИРОВАННОГО ВИДЕОАНАЛИЗА ТЕМПЛЕТОВ ПРИ НЕПРЕРЫВНОМ ЛИТЬЕ ЗАГОТОВОК НА МНЛЗ (СИСТЕМА СВАТ)

1. Способ автоматизированного видеоанализа (контроля) темплетов, включающий подготовку темплетов, получение изображений, выделение и идентификацию дефектов, сравнение со шкалами, определение оценок и протоколирование, отличающийся тем, что темплеты сканируют по всей площади сканирующим модулем, получают видеоизображения темплетов, полученные видеоизображения и технологические параметры их изготовления передают в компьютер вычислительного модуля, в котором выполняется обучаемое программное обеспечение (ПО), посредством которого распознают дефекты макроструктуры на видеоизображениях темплетов на основе сравнения с библиотекой изображений дефектов, создают электронный отчет по каждому темплету, используемый при оформлении сопровождающей заготовку документации, при этом компьютерная обработка видеоизображений темплетов включает протоколирование результатов анализа и формирование полного отчета по качеству (сортности) при заданных технологических параметрах литья и сохранение изображений обнаруженных дефектов в базе данных для последующего просмотра, редактирования, а также пополнения библиотеки изображений дефектов, кроме того, на основе данных видеоанализа темплетов определяют систему качественной бездефектной технологии непрерывного литья заготовок.

2. Устройство автоматизированного видеоанализа темплетов, включающее сканирующий модуль, содержащий осветитель, сканирующую головку, встроенный компьютер с фрэймграббером, электромеханическое устройство для плавного перемещения сканирующей головки относительно поверхности темплета, вычислительный модуль, содержащий компьютер с выполняемым в нем программным обеспечением (ПО) для анализа видеоизображения, обнаружения дефектов, вычисления оценок и управления системой, а также АРМ оператора, обеспечивающий просмотр и корректировку протокола и видеоизображений дефектов, работу с графической базой данных по анализу темплетов.

3. Устройство по п.2, отличающееся тем, что применяется осветитель в видимом, и/или в ультрафиолетовом, и/или в инфракрасном спектрах в зависимости от требований к перечню и параметрам контролируемых дефектов.